美國FERRO公司PTCR測溫環(huán)的全生產(chǎn)過程已獲得ISO9002質(zhì)量認(rèn)證，從各方面(原料精選，生產(chǎn)過程控制，產(chǎn)品檢驗(yàn)換算表的制定)保證產(chǎn)品準(zhǔn)確、可靠、方便。




FERRO測溫環(huán)可簡單、方便、快捷反映出產(chǎn)品燒成溫度。
陶瓷產(chǎn)品生產(chǎn)中需要有效的溫度測量，但多數(shù)測量手段或工具在時(shí)間和空間上均受到限制。例如：熱點(diǎn)偶并不能測量產(chǎn)品本身的溫度，而是整個(gè)產(chǎn)品燒制時(shí)的環(huán)境溫度。此外，它只能測輻射熱，而不測量來自窯具的傳導(dǎo)熱。
FERRO測溫環(huán)為高精度陶瓷燒成溫度指示器，用來記錄燒成品的真實(shí)燒制過程(包括輻射熱和傳導(dǎo)熱)，F(xiàn)ERRO測溫環(huán)適用于非連續(xù)窯或連續(xù)輥道窯、梭式窯、鐘罩窯、隧道窯，F(xiàn)ERRO測溫環(huán)還適用于氧、氮、空氣、真空和還原等燒成氣氛。(還原氣氛下使用須進(jìn)行預(yù)燒)
本公司可提供五種不同規(guī)格的FERRO測溫環(huán)(850℃ - 1750℃)，用戶可根據(jù)自己的實(shí)際燒成溫度范圍選擇。
測溫環(huán)(PTCR)的型號及應(yīng)用行業(yè):
溫度范圍 訂貨號 應(yīng)用行業(yè)
660 -- 900℃ PTCR-UTH 石英，釉料，藝術(shù)陶瓷，低溫日用陶瓷等
850 - 1100℃ PTCR-ETH 低溫日用瓷，美術(shù)陶瓷，瓷磚，陶器
970 - 1250℃ PTCR-LTH 瓷料預(yù)合成、陶器、建筑用磚瓦，窯具，炻器
1130 - 1400℃ PTCR-STH 陶瓷多層電容器，鐵氧體和絕緣陶瓷，粉末冶金，衛(wèi)生陶瓷，日用瓷，專瓦，砂輪，中溫耐火材料和窯具
1340 - 1520℃ PTCR-MTH 磁性材料、絕緣陶瓷、瓷器，介電陶瓷，壓電陶瓷，半導(dǎo)體陶瓷，其他光功能陶瓷，生物及化學(xué)功能陶瓷，中至高溫耐火材料，窯具
1450 - 1750℃ PTCR-HTH 特殊結(jié)構(gòu)陶瓷、特殊功能陶瓷，基片，高溫耐火材料和窯具
PTCR測溫環(huán)尺寸： 外徑：20mm， 內(nèi)徑：10mm， 厚度：7.0mm。
PTCR為可靠的高精度產(chǎn)品，誤差小于3℃。甚至可達(dá)1.5℃。
產(chǎn)品　包裝15個(gè)/小紙盒: 600個(gè)/大盒

FERRO測溫環(huán)工作原理及使用方法:
FERRO測溫環(huán)工作原理是根據(jù)測溫環(huán)在吸收熱量時(shí)即發(fā)生收縮，在FERRO測溫環(huán)規(guī)定的工作溫度范圍內(nèi)的線性收縮，從而給出測溫環(huán)和燒成品的實(shí)際累積熱量，對照換算表得出測試溫度。FERRO測溫環(huán)可放置在窯內(nèi)任何位置，如窯具、窯車或載板上，或與燒制的產(chǎn)品放在一起。FERRO測溫環(huán)直徑的收縮率表示窯內(nèi)測溫環(huán)所在的實(shí)際溫度。使用常見的千分尺即可很容易測量燒成后的測溫環(huán)直徑。為了和方便起見，每批FERRO測溫環(huán)附有一個(gè)專用換算表。為保證正確使用，請注意測溫環(huán)上所標(biāo)的生產(chǎn)批號必須與溫度換算表上保持一致。
注意：FERRO測溫環(huán)測定的是根據(jù)整個(gè)燒成過程中熱量的累積，即輻射熱、傳導(dǎo)熱和時(shí)間的綜合效應(yīng)，不僅能測量燒制品達(dá)到的溫度，F(xiàn)ERRO測溫環(huán)更能真實(shí)表現(xiàn)產(chǎn)品在熱處理過程中的受熱狀態(tài)。

FERRO測溫環(huán)優(yōu)點(diǎn)
FERRO測溫環(huán)可簡易、方便、迅速地測定爐內(nèi)三維空間各測試點(diǎn)的溫度分布，F(xiàn)ERRO測溫環(huán)并可根據(jù)需要任意擺放在不同位置。
FERRO測溫環(huán) 可貼近產(chǎn)品，測定燒成制品受熱狀態(tài)，反映燒成溫度。
FERRO測溫環(huán)一致性良好，可以保證產(chǎn)品燒成溫度的良好重現(xiàn)性，因而可判定實(shí)際燒成溫度，協(xié)助提高燒成品的成品率。
FERRO測溫環(huán)由于可任意擺放，由此可無再需對燒成品進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，從而減少生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制成本。
準(zhǔn)確反映燒成過程中，不同位置上的實(shí)際測試溫度及不同各點(diǎn)的溫度差異。