BET法比表面儀

F-Sorb 2400比表面儀是目前國內(nèi)同類產(chǎn)品中*完全自動化,智能化的比表面測量儀器,由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā),秉承兵器行業(yè)高標準、嚴要求的技術宗旨,依據(jù)國際經(jīng)典比表面檢測理論和原理,采用國內(nèi)外通用比表面檢測方法,符合國際比表面檢測標準,顯著提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和使用壽命,測試結果更準確,操作簡單快捷,大大降低測試人員工作量

全自動比表面儀性能參數(shù)

測試方法:BET法比表面(多點及單點)檢測,Langmuir比表面檢測,炭黑外比表面積檢測,直接對比法比表面檢測,連續(xù)流動法,樣品吸附常數(shù)C測定

測試功能:F-Sorb智能化測試模式,無人干預全自動測試,消除人為操作誤差,提高測試精度

測量范圍:0.01(㎡/g)--至無上限(比表面積)

流量調(diào)節(jié):F-Sorb*功能,實現(xiàn)不同P/Po點流量軟件控制自動調(diào)節(jié),無需人工手動調(diào)節(jié)流量

定量標定:F-Sorb型定量氣路由軟件控制,按需自動切換脫附,無需人工手動操控定量開關,提高定量標定精度

控制系統(tǒng):獨有的集中的多功能控制系統(tǒng),能實現(xiàn)測試過程的完全自動化及智能化,測試期間無需任何人工干預,儀器自動執(zhí)行測試

樣品數(shù)量:可同時進行4個樣品的吸附或脫附測定

測試壓力:常壓下進行,無需抽真空,有利于快速的比表面檢測

測試精度:測量重復性誤差≤2%;≤1.5%直接對比法

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等,適用于幾乎所有樣品比表面檢測,應用廣泛

測試氣體:載氣為高純He氣(99.99%),吸附質為高純N2(99.99%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)

管路密封:采用高真空系統(tǒng)不銹鋼管路,高密封性能,大大提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命,有效防止氣體分子滲透導致的比表面檢測誤差;同時不銹鋼管不存在老化問題,大大提高可靠性和壽命

測試時間:每樣品每 P/P0點吸附和脫附平均時間為5分鐘(視樣品吸附特性變化),四個樣品分析平均時間20分鐘左右(同時可測四個樣品),比表面積結果自動由軟件實時得出

數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集及處理芯片,誤差小,抗干擾能力強

數(shù)據(jù)處理:BET單點及多點線性擬合圖,圖形化數(shù)據(jù)分析結果報表,可根據(jù)需要選擇中英文格式結果報表.分析與數(shù)據(jù)處理可同時進行,檢測結果實時顯示,詳細的自動操作步驟記錄及數(shù)據(jù)隨測試結果文件保存

全自動比表面儀特點

A.比表面儀結構設計

1)簡潔緊湊的外觀結構設計,節(jié)省空間;可拆卸前面板防護罩,有效防止液氮濺灑安全隱患,同時降低環(huán)境因素對比表面檢測過程的影響

2)采用全不銹鋼管路系統(tǒng),提高密封性能,有效防止氣體分子滲透導致的比表面檢測誤差;同時不銹鋼管不存在老化問題,可靠性和壽命大大提高

3)模塊化結構設計,有利于根據(jù)用戶比表面檢測需求按需配置及后期功能擴展

B.比表面儀控制系統(tǒng)

1)采用先進的控制技術,集中的多功能控制系統(tǒng),一體化電機螺桿升降系統(tǒng),比表面檢測過程中液氮容器升降更平穩(wěn)

2)*的電橋平衡電路,大幅提高信號電壓靈敏度,同時實現(xiàn)信號零點漂移自動平衡,有利于實現(xiàn)比表面檢測的自動化

3)完整的自動化操作設計,徹底實現(xiàn)比表面檢測過程智能化,無需人工干預或看守,大大降低測定人員工作量,提高工作效率

C.比表面儀數(shù)據(jù)采集及處理

1)高精度數(shù)據(jù)采集、信號放大及A/D轉換系統(tǒng)高度集成化,抗干擾能力強,實時性高,有利于降低比表面儀的比表面檢測過程受環(huán)境因素的影響

2)自主開發(fā)的Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,用戶界面靈活定制,操作簡單易懂;*的比表面數(shù)據(jù)處理模型,有效消除系統(tǒng)誤差,提高比表面檢測精度

3)數(shù)據(jù)報告按需定制,多種形式的數(shù)據(jù)分析模式,方便用戶研究比表面檢測結果;強大的分析測試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理

D.比表面儀測試優(yōu)化

1)針對不同范圍樣品比表面檢測要求,可"因地制宜"選擇合適的儀器參數(shù)設置,有利于提高比表面測試結果的準確度

2)靈活的直接對比法比表面檢測與BET法比表面檢測轉換,簡化操作流程,提高比表面測試效率

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